Rigaku ultima IV с Cu излучением: Проведение качественного/количественного фазового анализа в интервалах температур от —300С до +500С.

 Определение параметра решетки (точность 0,00001 ангстрем), микроискажений кристаллической решетки, размера ОКР и плотности дислокаций в интервалах температур от —300С до +500С.
Определение размера и распределения нанопор и зон Гинье (скопления частиц от 1 до 50 нм) методом малоугловой дифракции при комнатной температуре.
Определение остаточных макронапряжений в деталях любой конфигурации (лопатки ГТД и т.д.) в любой точке (d=1 мм). При этом, вырезать образцы для РСА из деталей не нужно. Деталь вплоть до 5 кг целиком крепится на специальный держатель для больших образцов. Здесь также имеется возможность построения карты распределения остаточных макронапряжений (macrostress map). Анализ кристаллографических текстур в металлах и сплавах: прямые полюсные фигуры (ПФ), обратные ПФ, функция распределения ориентировок 2D и 3D (любые сечения с использованием  методов WIMW, Шульца), определение типа текстур, объемной доли преимущественных ориентировок, активности тех или иных систем (разные типы решеток), анизотропия механических свойств (зависимость механических свойств в любом направлении образца). Анализ тонких пленок (жидкости, полимеры, нефтяные отходы, органика и т.д.).

 Рентгеновскиий дифрактометр  ДРОН-4м с Fе излучением с приставкой для быстрого вращения заготовок: Предназначен для проведение качественного/количественного фазового анализа, определения параметра решетки (точность 0,0001 ангстрем), микроискажений кристаллической решетки, размера ОКР и плотности дислокаций при комнатной температуре.

 

Рентгеновский дифрактометр ДРОН-3м с Мо излучением с многоцелевой приставкой: Предназначен для проведение качественного/количественного фазового анализа, определения параметра решетки (точность 0,0001 ангстрем), микроискажений кристаллической решетки, размера ОКР и плотности дислокаций при комнатной температуре. Определение остаточных макронапряжений в деталях любой конфигурации в любой точке ( d=1 мм). Здесь также имеется возможность построения карты распределения остаточных макронапряжений. Также позволяет проанализировать кристаллографические текстуры в металлах и сплавах: прямые полюсные фигуры (ПФ), обратные ПФ, функция распределения ориентировок 2D и 3D, определение типа текстур, объемной доли преимущественных ориентировок, активности тех или иных систем (разные типы решеток), анизотропия механических свойств (зависимость механических свойств в любом направлении образца).

Ответственный за лабораторию:

Ситдиков Виль Даянович,
к.ф-м.н., научный сотрудник