Растровый электронный микроскоп (РЭМ) JSM-6390 c ускоряющим напряжением 30 кВ. Микроскоп работает в режимах: вторичных электронов и обратно-рассеянных электронов.

Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ)  JEM-2100 c ускоряющим напряжением 200 кВ. Также имеется приставка INCAx-sight, которая позволяет проводить элементый энерго-дисперсионный анализ с минимальной областью 30 нм. Также имеется удобная цифровая фотокамера для съемки микроструктуры.

ION SLICER EM-09100 IS
Устройство для препарирования образцов, используемое в просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ). Позволяет утонять фольги путем травления их поверхности пучком ионов аргона. Ускоряющее напряжение ионов 1-8 кВ, газ травления- аргон 99.999%. Угол падения ионов 0-6 градусов.

Ion cleaner JIC-410
Это  устройство используется для удаления загрязнений на ПЭМ образцах. Образец помещается в вакуум и применяется тлеющий разряд для очистки образца.

Оптический микроскоп Olympus GX51
Микроскоп оснащен: пятью объективами, позволяющими получать изображение с увеличением 50х, 100х, 200х, 500х, 1000х; специализированной цифровой видео камерой UC30 высокого разрешения (3,2 мегапикселя); моторизированным сканирующим столиком SCAN IM с шаговым двигателем, с ограничителями хода; интегрированными кубами светлое поле/темное поле; поляризатором GX-PO, обеспечивающий возможность работы при всех увеличениях; лицензионным программным обеспечением.

Микроскоп металлографический «Эпиквант»
Предназначен для исследование микроструктуры металлов и сплавов, определение размера зерна, количественный анализ зеренной структуры

Ответственные за лабораторию

8

Ганеев Артур Вилевич
инженер 1 кат.

9

Хафизова Эльвира Динифовна
научный сотрудник

10

Нестеров Константин Михайлович
научный сотрудник

Никитина Марина Александровна
научный сотрудник